IBM公司研究人員稱消費者可以在保持電子標簽可用性的同時減少無源標簽的讀取距離

應(yīng)用在消費供應(yīng)鏈上無源標簽的隱私問題一直備受關(guān)注，現(xiàn)在IBM的兩位研究人員已經(jīng)研究出一種所謂的可分離標簽來解決這個問題。

這周在Alexandria由美國計算機協(xié)會舉辦的計算機與通訊安全大會上，IBM的研究人員Paul Moskowitz展示了一種新型電子標簽的設(shè)計方法及其使用方法，與他一同開發(fā)這個產(chǎn)品的還有Günter Karjoth。在IBM的Zurich研究實驗室，Paul Moskowitz和Günter Karjoth共同創(chuàng)造了這種可分離標簽的理論并撰寫了這篇在這次ACM大會上發(fā)言的論文。

這種可分離的設(shè)計可以使消費者改變電子標簽的天線長度從而極大地縮短標簽的讀取距離?？s短天線后的標簽本身還是可以運行的，但是只能用來做為貨物的售后服務(wù)或產(chǎn)品退貨時的識別。Paul Moskowitz說這個設(shè)計可以為客戶消除隱私顧慮，在保證標簽可用性的同時也保證了制造廠家與商家的利益。

Paul Moskowitz擁有20項RFID相關(guān)的專利，同時也是IBM在EPCGlobal硬件行動組的代表。他說這種可分離標簽的基本理念可以在許多不同的設(shè)計中得到體現(xiàn)。在一種設(shè)計中，電子標簽的天線分成兩部分，這兩部分天線是由一小片印刷電導(dǎo)體連接起來。消費者可以用硬幣刮擦印刷電導(dǎo)體來破壞兩部分天線間的連接，使一部分天線無效，從而極大縮短標簽的可讀取距離。

第一種設(shè)計：A天線用印刷電路連接在一起，B天線已分開。

另外一種方式是在標簽的下表面打兩行線式齒，在齒邊上有一突出部分，消費者可以拉除天線的一部分，剩下的天線和芯片可以組成一個讀取距離極短的標簽。第三種方法是讓標簽 的一部分天線直接打印到可去除的基面上，消費者可以用剝離的方式來去除這一部分天線。

第二種設(shè)計：可以拉除式的標簽天線設(shè)計

第三種設(shè)計：可剝離式的RFID標簽天線設(shè)計

這種分離式的標簽的讀取距離將從原有的幾米下降到1-2英寸。顧客將不用再擔(dān)心受到他人的隱蔽讀取自己的物品信息，因為如果用手持的閱讀設(shè)備要幾乎緊貼標簽才可以讀取得到信息。即使是采用了大功率放大器的RFID讀取設(shè)備，讀取距離也只能在3-6英寸。

IBM的隱私問題辦公室主任Harriet Pearson稱，IBM一直將消費者的隱私問題當(dāng)做一件非常重要的事情，也一直在做如可分離式的電子標簽之類的技術(shù)研究。IBM也有一個專門的組織來解答終端用戶或預(yù)期的終端用戶對于RFID隱私相關(guān)問題的咨詢。

Moskowitz說他已經(jīng)利用Alien的ALL-9338 Squiggle 1.1 標簽制造了一個分離式標簽，經(jīng)過剝離的標簽的讀取距離從原有的2米（6.6英尺）下降到了5厘米。他也承認這種可分離式的標簽還需要更多的時間實驗和尋找合適的材料，標簽的價格也將更高。關(guān)于標簽制造的可行性也還未闡述。

IBM表示這種設(shè)計還只是保護隱私問題的一個開始，對于將來的設(shè)計起到啟迪的作用。所以公司認為現(xiàn)在談?wù)撽P(guān)于這種應(yīng)用的戰(zhàn)略或設(shè)計的專利問題還為時尚早。

做為對隱私問題的回應(yīng)，EPC Gen2 Class 1的協(xié)議本身已經(jīng)包含了一個殺死（kill）命令。這種做法不利的地方是當(dāng)標簽被讀寫器殺死之后就失去了所有的功能了，不能再被讀取，這也將使商家和制造商無法利用該標簽來做其它的功能，如產(chǎn)品的退貨、售后服務(wù)等。同樣消費者也失去了將來利用該標簽的機會了。

很多業(yè)內(nèi)人士都認為殺死標簽是一種很激進的做法。RFID journal的在線調(diào)查顯示有43%的投票人認為這種做法是激進的，有43%的投票人認為沒有其它的方法可選，其余的不能決定其中之一。

伴隨著RFID技術(shù)的成長與應(yīng)用的擴展，社會對于RFID技術(shù)所帶來的隱私問題的關(guān)注就從來沒有停止過，針對一些消費者隱私保護組織的質(zhì)詢（他們出了一本書“間諜芯片”在社會上引起很大的反響），RFID公司的執(zhí)行主席內(nèi)克勒斯.凱威斯日前還發(fā)表了一份長達25頁的辯駁書（詳見RFID公司總裁回應(yīng)“間諜芯片”一書） ，這份聲明主要是從隱私方面對RFID工業(yè)進行透視性剖析。業(yè)界也一直在進行著相關(guān)的研究，我們期待在未來的一段時間內(nèi)，有更多合理的解決方案出現(xiàn)。

英文原文鏈接：http://www.rfidjournal.com/article/articleview/1972/1/1/